
Input ADC dihubungkan ke internal test network. Gain pre-amplifier 1600 mV (0 dB) atau 400 mV (12 dB), tergantung pilihan pengguna. DAC terhubungkan dengan internal test network. Tipe filter dan Sample Rate tergantung pilihan penguna. Menggunakan tiga test sequence (T1, T2, T3).
DAC memberikan sebuah pulsa (dengan amplitude dan lebar yang telah diketahui) ke internal test network.
Input ADC dihubungkan dengan internal test network. Tegangan di internal test network diukur. Sebuah DFT dikomputasi pada sinyal output DSP (dengan frequensi tes yang berbeda) dan dibandingkan dengan sebuah model komputasi dengan frekuensi yang sama. Error dihitung dengan mencari perbedaan amplitude dan fase antara sinyal yang terukur dengan model.
Besarnya frekuensi tes yang digunakan untuk komputasi DFT (pada sinyal yan terukur dengan model) bergantung pada Sample Rate yang dipilih karena berdasarkan persamaan berikut:
DFT teoritis dari sinyal input, TheoretDft, dikomputasi dari nilai kalibrasi FDU, dari arus output DAC, dan dari konfigurasi dari hambatan dalam jaringan. Nilai RMS dari sinyal input teoritis adalah:
DAC memberikan sebuah pulsa (dengan amplitude dan lebar yang telah diketahui) ke internal test network.

Besarnya frekuensi tes yang digunakan untuk komputasi DFT (pada sinyal yan terukur dengan model) bergantung pada Sample Rate yang dipilih karena berdasarkan persamaan berikut:







0 comments:
Post a Comment